Diseño colaborativo para mejorar el almacenamiento en memoria NAND Flash

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Ingenieros chinos ha creado una plataforma de diseño colaborativo de hardware y software de memoria de almacenamiento NAND Flash, basada en chips de procesamiento programables FPGA. Esta tecnología ya se está utilizando para investigar a fondo problemas como la vulnerabilidad que se ha descubierto recientemente en los bloques de memoria inactivos, aunque puede tener muchas otras aplicaciones para el desarrollo de esta tecnología.

La memoria 3D NAND Flash se ha convertido en la tecnología de almacenamiento dominante en la industria, proporcionando los chips que se usan en todo tipo de aplicaciones, desde los SSD convencionales para los ordenadores al almacenamiento de estado sólido de categoría empresarial e, incluso, para dotar de capacidad propia a los teléfonos móviles y otros dispositivos.

Aunque ya se usa en numerosos campos, esta la tecnología todavía presenta algunos problemas, y recientemente se ha conocido una vulnerabilidad que afecta a la lectura de bloques inactivos de memoria en los chips 3D NAND, haciéndolos menos confiables. Estudiar y comprender mejor este tipo de fallos es vital para que la industria pueda seguir desarrollando soluciones mejores, más avanzadas, confiables y eficientes, y en esto la colaboración entre los investigadores es esencial.

Siguiendo esta línea de pensamiento, un equipo de ingenieros de la Escuela de Ingeniería Electrónica e Información del Instituto de Tecnología de Harbin, en China, ha desarrollado una plataforma experimental para el diseño y la investigación colaborativa. El objetivo es aunar fuerzas en el desarrollo de mejores tecnologías de hardware y software NAND Flash, para lo que emplean una plataforma construida sobe la base de procesadores programables FPGA, que ya han utilizado para estudiar esta vulnerabilidad recientemente descubierta.

Como explican en una rtículo puyblicakdo recientemente en la revista Microelectronics Reliability, su invención implementa el control de tiempo y extracción de funciones de error de la memoria NAND Flash, equipada con un software de computadora basado en LabVIEW. Afirman que puede procesar datos experimentales con alta velocidad, estabilidad y precisión, lo que permite a los usuarios evaluar de forma efectiva el funcionamiento de sus tecnologías de memoria NAND Flash, algo que ya les ha permitido comprender mejor algunos problemas conocidos de esta tecnología, como el mencionado anteriormente.

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